Nombre en inglés: Espectrómetro de emisión atómica con plasma acoplado inductivamente. Modelo: Prodigy 7. Fabricante: Leeman Company. Origen: Estados Unidos.
Límite de detección: μg/L~μg/mL Rango de longitud de onda: 165 nm-1100 nm; Tipo de instrumento: lectura directa de espectro completo; Detector: detector de estado sólido CMOS.
Función: Analiza el análisis cualitativo y cuantitativo de 68 elementos de la tabla periódica. El análisis cuantitativo puede analizar muestras en un rango de concentración de 0,01-100 μg/mL (ppm), con una precisión de hasta 0,01 ppm, y puede realizar simultáneamente una inyección de muestra. Se detectan múltiples elementos en la muestra.
Principio: después de que la solución de la muestra se evapora y se gasifica, todos los elementos existen en forma de átomos gaseosos. Bajo excitación por plasma, los átomos gaseosos vuelven del estado excitado al estado fundamental para generar radiación. Debido a que los niveles de energía de los diferentes elementos son diferentes, tienen sus propias líneas de radiación características. El instrumento ICP mide la longitud de onda y la intensidad de cada línea del espectro para determinar el tipo y la concentración del elemento, con el fin de realizar un análisis cualitativo y cuantitativo.
2. XRD
Nombre en inglés: Difractómetro de polvo de rayos X. Modelo: D2 PHASER. Fabricante: Bruker. Origen: Alemania.
Indicadores técnicos: Goniómetro vertical Theta/Theta. Rango de ángulo 2Theta: -3~160°. El ángulo mínimo es de 0,002. No necesita luz. Objetivo Cr/Co/Cu, tubo de luz de tamaño estándar. No necesita ordenador externo, diseño integrado del sistema de control del instrumento y de adquisición de datos; No requiere refrigeración por agua externa; No requiere calibración previa; Potencia del generador 300 W, tensión de alimentación 90-250 V, 50-60 Hz, plug and play.
Función: Utiliza el principio de difracción para determinar la estructura cristalina y el tamaño de grano del polvo según la posición del pico de difracción y la anchura a media altura. Comparando con la biblioteca de tarjetas estándar, se puede inferir la estructura y la composición de la muestra desconocida y se puede realizar un análisis de fase con precisión. Análisis cualitativo, análisis cuantitativo.
Principio: en los materiales cristalinos, cuando el cristal que se va a medir se encuentra en un ángulo diferente al de los rayos X incidentes, se detecta el plano cristalino que cumple la difracción de Bragg. Esto se refleja en el espectro XRD como picos de difracción con diferentes intensidades de difracción. Según los picos de difracción medidos, se puede deducir la estructura de los cristales. Al mismo tiempo, las posiciones de los picos de difracción también son diferentes debido a la diferencia entre los planos cristalinos de los cristales compuestos por diferentes elementos. Los medios de detección de elementos coincidentes se pueden comparar con cristales conocidos. En el caso de los materiales amorfos, debido a que no hay un orden de largo alcance en la estructura cristalina, sino un orden de corto alcance en unos pocos átomos, el patrón XRD muestra algunos picos de dispersión difusa.
3. SEM+EDX
Nombre en inglés: Electron Microscope (Microscopio electrónico) Modelo: Pro X Fabricante: PHENOM Origen: Países Bajos
Indicadores técnicos: Microscopio óptico: aumento de 20 a 135 veces; microscopio electrónico: 150 000 aumentos; detector: detector de electrones retrodispersados de alta sensibilidad de cuatro secciones; material del filamento: filamento CeB6 de 1500 horas; resolución de la imagen de electrones retrodispersados: 8 nm (10 kV) ; resolución de la imagen de electrones secundarios: 8 nm (10 kV); tensión de aceleración: 5 kV-15 kV ajustable de forma continua; tiempo de vacío: menos de 15 segundos; rango de elementos de detección: elementos B (5)-Am (95); detector de espectro de energía: detector de deriva de silicio (SDD); método de refrigeración: sin nitrógeno líquido, refrigeración eléctrica por efecto Peltier; resolución de energía: <123 eV (Mn Kaα); área activa del cristal del detector: 25 mm2
Función: permite observar directamente la morfología de la superficie de la muestra sin pulverizar oro, sin destruir la estructura superficial de la muestra y, al mismo tiempo, obtener información cualitativa y cuantitativa sobre los elementos superficiales de la muestra.
4. FTIR
Nombre en inglés: Espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier. Modelo: Tensor 27. Fabricante: Bruker. Origen: Alemania.
Indicadores técnicos: Rango de números de onda: 4000-400 cm-1 Resolución: 1 cm-1; relación S/N superior a 32 000:1 (prueba de 1 minuto); interferómetro ROCKSOLID, excelente rendimiento sísmico, sin mantenimiento; se puede combinar con microscopio infrarrojo, pérdida de peso térmica, cromatografía de gases, parque de vibración de dos colores, etc.; sistema operativo: OPUS/IR
Función: Se utiliza para medir los espectros infrarrojos de muestras sólidas, gaseosas y líquidas y los procesos de reacción in situ, con el fin de obtener diferentes formas de enlace e interacciones en la muestra y, basándose en ello, realizar la identificación de la composición de los compuestos, el análisis de la estructura de los compuestos y la química de la muestra. Análisis cinético de la reacción.
5. FL
Nombre en inglés: Espectroscopia de fluorescencia Modelo: F7000 Fabricante: Hitachi Origen: Japón
Indicadores técnicos: Rango de longitud de onda de emisión de excitación: 200-900 nm; Sensibilidad: S/N >800 (RMS); S/N >250 (PP); Se utiliza el pico Raman del agua, la longitud de onda de excitación es de 350 nm, el ancho de banda espectral es de 5 nm, el tiempo de respuesta es de 2 s; Resolución: 1,0 nm Precisión de la longitud de onda: 1 nm; Velocidad de barrido de la longitud de onda: 30/ 60/ 240/ 1200/ 2400/ 12000/ 30000/ 60000 nm/min
Función: Mide el espectro de excitación de la fluorescencia, el espectro de emisión de la fluorescencia, el espectro tridimensional, etc. de materiales luminiscentes. También puede realizar pruebas de barrido tridimensional en el tiempo y pruebas de vida útil de la fluorescencia.
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